Tektronix ha introducido el Keithley S540 Power Semiconductor Test System, un sistema para test de semiconductores de prueba paramétrica de 48 pines totalmente automatizado que permite la comprobación a nivel oblea de semiconductores de potencia y estructuras de hasta 3 kV.
Optimizado para uso con los últimos materiales semiconductores de potencia compuestos, como carburo de silicio (SiC) y nitruro de galio (GaN), este sistema completamente integrado puede realizar todas las pruebas de alta y baja tensión y capacitancia tras un solo toque.
Como la demanda de dispositivos semiconductores de potencia continúa creciendo y SiC y GaN están siendo cada vez más comercializados, los fabricantes adoptan el test a nivel oblea en sus procesos de producción para mejorar la rentabilidad.
En estos entornos, el sistema para test de semiconductores S540 aporta un menor coste de propiedad al reducir el tiempo de las pruebas (y de la preparación de las mismas) y el espacio necesario y, al mismo tiempo, alcanzar un rendimiento de medición de elevada tensión de grado laboratorio (lab-grade).
“Muchos fabricantes están utilizando sistemas de test híbridos a medida para comprobar semiconductores de potencia que requieren preparación manual de test al variar desde baja a alta tensión. En consecuencia, esto añade pasos al proceso y ralentiza la producción”, afirma Mike Flaherty, general manager de la línea de productos Keithley en Tektronix. “Por el contrario, el S540 es una solución completa y totalmente integrada que está especialmente indicada en entornos de producción, donde hay que analizar rápidamente numerosos dispositivos”.
Funcionamiento del sistema para test de semiconductores
Para conseguir unas prestaciones a nivel producción, el S540 puede efectuar mediciones paramétricas en hasta 48 pines sin cambiar cables ni la infraestructura de tarjeta de sonda. También puede llevar a cabo pruebas de capacitancia de transistor, como Ciss, Coss y Crss de hasta 3 kV y, de nuevo, sin reconfiguración manual de los pines de test.
Este sistema también destaca por dotar de un rendimiento de medición sub-pA y funcionar de manera totalmente automatizada (test de corriente de fuga de alta tensión en menos de un segundo).
El Keithley S540 Power Semiconductor Test System, que supera los estándares de seguridad y diagnóstico de la industria, se suministra con matrices de conmutación para baja y alta tensión, cableado, adaptadores de tarjeta de sonda, drivers y software de test.
