Inicio National Instruments Sistema para prueba de semiconductores

Sistema para prueba de semiconductores

2773
0

Sistema para prueba de semiconductoresNational Instruments, proveedor de sistemas basados en plataforma que permiten a los ingenieros y científicos resolver las mayores dificultades de ingeniería del mundo, presenta nuevas capacidades de RF para transmitir y recibir con más potencia, así como predistorsión digital y seguimiento de envolvente en tiempo real basado en FPGA en su sistema para prueba de semiconductores (STS).

Los puertos de RF de gran potencia, lo último en una serie de mejoras del sistema, ayudan a los fabricantes de módulos front-end de RF a cumplir los requisitos de prueba ampliados de los circuitos de radio frecuencia y otros dispositivos inteligentes, a la vez que ayudan a reducir el coste.

Como los puertos de RF existen en un probador totalmente integrado con el sistema para prueba de semiconductores, puede reducirse el tiempo y coste del desarrollo de pruebas de RF sin sacrificar la precisión de la medida ni el rendimiento. Además, este sistema integrado elimina la necesidad de subsistemas de RF costosos y adicionales, como requieren los equipos de pruebas automatizadas (ATE) tradicionales.

A medida que se integran más componentes en módulos front-end de RF y a medida que nuevos estándares inalámbricos de banda ancha aumentan la relación de potencia de pico a promedio, los fabricantes de estos dispositivos requieren más capacidad de medida para las frecuencias RF de mayor potencia.

Los nuevos puertos de RF del STS pueden transmitir a +38 dBm y recibir a +40 dBm en los acoplamientos ciegos de RF, lo cual es una capacidad excelente no disponible en otra solución comercial.

Además, ahora puede realizar medidas de parámetros S de 26 GHz, seguimiento de envolvente FPGA y predistorsión digital basada en FPGA, con software sumamente funcional. Estas funciones hacen que el STS sea una solución de prueba de producción ideal para los RFIC de próxima generación.

Componentes del sistema para prueba de semiconductores

Esta plataforma ahora incluye transceptores vectoriales de señales con un ancho de banda de 1 GHz, unidades de medida de fuentes de clase fA, el software de gestión de pruebas comercial ya montado, el módulo de semiconductores TestStand y más de 600 productos PXI que van de CC a mmWave.

DEJA UNA RESPUESTA

Por favor ingrese su comentario!
Por favor ingrese su nombre aquí

Este sitio usa Akismet para reducir el spam. Aprende cómo se procesan los datos de tus comentarios.