La japonesa Advantest Corporation ha presentado su nueva opción TDR para la serie TS9000 de su sistema de análisis Terahertz.
Esta nueva opción capacita a dichos sistemas para el análisis de la calidad de los circuitos en semiconductores, sustratos impresos, componentes electrónicos, y otras aplicaciones, todo ello utilizando ondas Terahertz de pulso breve.
Este dispositivo se basa en la tecnología de medición TDT/TDR de Advantest, sobradamente probada por el mercado, para identificar y localizar defectos mediante el empleo de procesamiento de señales de corto pulso.
Esta solución propuesta en el sistema de análisis Terahertz proporciona el análisis de circuitos con una extrema precisión espacial de menos de cinco micrómetros, y un rango máximo de medición de 300 mm incluyendo el circuito interno utilizado vías a través del silicio (TSVs) e interpondedores.
Además, con el TDR/TDT CAD Data Link, los errores localizados pueden ser mapeados y mostrados en los datos CAD en el dispositivo target, facilitando a los usuarios la identificación de las causas que provocan los errores.
Para el sistema de análisis Terahertz TS900 TDR Option, Advantest proporciona tres tipos de sondas TDR/TDT, cada una de ellas con diferente resolución y configuración de distancia de medición, así como podrá personalizar para requisitos de contacto únicos.
La estación de la sonda tiene unas dimensiones de 1.230x830x700 mm, y un peso máximo de 140 kilos o menos. La unidad de análisis mide 430x540x230 mm y pesa 30 kg o menos y, finalmente, la unidad óptica presenta unas medidas de 430x240x220 mm y un peso que no rebasa los 14 kg.
Advantest mostrará su nuevo sistema de análisis Terahertz para la industria de los semiconductores durante la conferencia International Microelectronics Assembly and Packaging Society, que se celebrará en Orlando (Florida, EEUU) del 27 al 29 de este mes de octubre.
Medidas con la sistema de análisis Terahertz
El análisis de calidad de la circuitería de un dispositivo electrónico se realiza muchas veces empleando un osciloscopio TDR (time domain reflectometry). No obstante, a medida que los dispositivos se empequeñecen y crece su nivel de integración, la habilidad para localizar fallos con la máxima precisión espacial posible, ha ganado en importancia.
Los instrumentos de medición existentes presentan una resolución limitada, ya que el hardware necesario para utilizar la tecnología de pulso corto no puede ser comprimido mucho más, creando el riesgo que las tecnologías de análisis existentes se vean inadecuadas para cumplir con los requisitos de los dispositivos altamente integrados que cada día tenemos más en nuestras manos.
A solucionar este problema es dónde se dirige, precisamente, la tecnología Terahertz de Advantest.
