Moortec Semiconductor ha anunciado la disponibilidad de sus nuevos monitores de procesamiento embebidos en procesos FinFET+ de 16 nm TSMC.
El monitor de procesamiento proporciona los mecanismos necesarios para que los desarrolladores de nodos avanzados de circuitos integrados (ICs) puedan detectar variaciones en el procesamiento de dispositivos MOS digitales con núcleo de baja fuga de 16 nanómetros.
El monitor de Procesamiento puede ser utilizado para habilitar un sistema de optimización continuada DFVS (Dynamic Voltage & Frequency Scaling), monitorizar las variaciones en el proceso de fabricación y, si se requiere, a través de chip, mediciones de retrasos en puerta, análisis de rutas críticas, análisis de voltaje crítico, y también monitorización del envejecimiento del silicio.
Moortec cree que esta monitorización in-chip se ha convertido en un factor vital en el diseño y la optimización del rendimiento de los diseños de geometría pequeña.
Desde 2010, esta empresa se ha especializado en el desarrollo de sensores PVT (Process, Voltage and Temperature) con un alto número de funcionalidades embebidas para su uso in-chip en las tecnologías de nodo CMOS avanzadas como las de 28 o 16 nanómetros.
Utilizando estos monitores de procesamiento embebidos en los diseños de los SoCs, es posible un mayor rendimiento dinámico de optimización, ya que sensorizando la temperatura de la die, detectando la velocidad lógica y monitorizando los niveles de suministro de voltaje, puede ser utilizado de forma inteligente para modificar las frecuencias del sistema de reloj y los niveles de voltaje de las fuentes de alimentación.
Un aspecto clave es que la optimización puede ser aplicada a todos los dispositivos, ya sea durante la fase de fabricación, o bién cuando los dispositivos ya están “sobre el terreno”.
Futuro para los monitores de procesamiento embebidos
Moortec también cree que las estrategias que adoptarán los diseñadores de circuitos integrados durante los próximos años se verán altamente influenciadas a través del análisis de los datos recogidos desde los monitores in-chip, una recogida de datos que se extenderá a través de toda la vida operativa del chip.
Los usuarios tienen a su disposición una interfaz AMBA APB, la cual proporciona una interfaz de bus estándar para una sola instancia de un monitor de procesamiento.
