GOPEL Electronics ha presentado la última extensión del ChipVORX Module FXT-X32/HSIO4, un nuevo módulo para testeo de interfaces para probar interfaces de alta velocidad empleando BERT (Bit Error Rate Test).
Este comprobador ofrece soporte para PCI 2.0, USB 3.0 y, por primera vez, también para redes LAN de 1G, además de otras nuevas funcionalidades que serán presentadas. Todo ello permite resultados detallados a test realizados en altas velocidades, ampliando la versatilidad del módulo para testeo de interfaces en la realización de varios test.
El FXT-X32/HSIO4 facilita la realización de pruebas eléctricas a nivel de placa, tanto en laboratorio como en condiciones de producción.
El módulo se controla vía serie, y puede ser conectado a cualquier TAP (Test Access Port). Para interfaces PCIe y USB, la compañía fabricante ofrece un BERT Multiple Point, el cual permite al usuario definir puntos de medición para el test BER.
La definición incluye el número de mediciones y el máximo número permitido de errores además de los puntos de medición. Al sobrepasar el número máximo de errores permitidos en un punto de medición de prueba, esta es terminada con un error de estado.
El usuario tiene a su disposición una serie de herramientas y plantillas para la definición de los puntos de medición.
Con el nuevo módulo para testeo de interfaces FXT-X32/HSIO4 se dispone de un nuevo método de prueba, el cual permite una calificación más detallada con la base de un simple Bit Error Rate Test.
El módulo es totalmente configurable gracias a los cuatro slots para tarjetas adaptadoras. Adicionalmente, incluso interfaces de tipos específicos pueden ser conectadas a través de tarjetas adaptadoras individuales.
Soft en el nuevo módulo para testeo de interfaces
El software de escaneo de límites SYSTEM CASCON permite la generación automática de tests y la ejecución de tests automatizada. Como funciones de testeo, los BERT pueden ser realizados y los diagramas static eye generados.
Esto hace del FXT-X32/HSIO4 una herramienta externa flexible que cumple con varios requisitos de testeo y prueba distintas ventajas comparado con un test funcional convencional.
