Diseño compacto y conmutación rápida en el foto relé TLP3450S para maximizar el rendimiento en sistemas de comprobación de semiconductores de alta gama.
El nuevo foto relé TLP3450S, lanzado por Toshiba Electronics Europe, ofrece mejoras significativas en velocidad y tamaño, posicionándose como una solución óptima para la electrónica de pines de probadores de semiconductores.
Este dispositivo permite medir los dispositivos bajo prueba (DUTs) con mayor precisión a altas velocidades, siendo además adecuado para tarjetas de prueba, instrumentos de medición y equipos industriales diversos.
Basado en una configuración interna mejorada, el TLP3450S integra LEDs infrarrojos optimizados acoplados a matrices de fotodiodos.
Mientras, su diseño avanzado reduce el tiempo de encendido (tON) a menos de 80 μs, lo que supone una mejora del 40 % respecto a su predecesor, el TLP3450. Estas características impactan positivamente en el rendimiento global de los sistemas de prueba automatizados (ATE).
Mayor precisión y diseño compacto
El TLP3450S reduce las pérdidas de señal y el ruido gracias a una capacitancia de salida (COFF) de tan solo 0,6 pF, lo que minimiza la fuga de señales de alta frecuencia cuando la salida está desactivada.
Su baja resistencia en estado de encendido (RON), típicamente de 6,8 Ω, mejora la atenuación de señal en el modo activo, incrementando la precisión en configuraciones de multiplexado.
El dispositivo ofrece una capacidad de aislamiento entrada-salida (BVs) de 500 Vrms, operando de forma fiable en un amplio rango de temperaturas, desde -40 °C hasta +110 °C.
Diseñado como un componente de contacto tipo A, puede gestionar una corriente continua de hasta 160 mA (ION) y admite pulsos de hasta 480 mA (IONP).
Para atender las exigencias de los sistemas ATE, que demandan componentes compactos y alta densidad de montaje, el TLP3450S se presenta en un encapsulado S-VSON4T, con dimensiones de 1,45 mm × 2,0 mm × 1,3 mm.
Además, dicho formato supone una reducción del 18 % en su huella comparado con productos convencionales, facilitando su integración en diseños de alta densidad.
Ideal para entornos industriales avanzados
El fotorelés TLP3450S combina velocidad, eficiencia y un diseño optimizado para aplicaciones críticas como probadores de semiconductores y equipos industriales.
Su capacidad para operar bajo condiciones exigentes y su tamaño reducido lo convierten en un componente clave en sistemas de prueba y medición modernos.
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