El fotomultiplicador de silicio (SiPM) para detección de fuentes de luz pulsada de bajo nivel AFBR-S4N33C013 permite comprobar la radiación de Cherenkov o el brillo de los materiales orgánicos (plásticos) e inorgánicos.
Broadcom anuncia el modelo AFBR-S4N33C013, un fotomultiplicador de silicio (single-silicon photo-multiplier – SiPM) que está especialmente indicado para una medida muy sensible de fotones.
Con un tamaño de 3,14 × 3,14 mm, ofrece elevada densidad mediante el uso de tecnología through-silicon-via (TSV) y un encapsulado chip-sized package (CSP). Es posible cubrir grandes áreas con múltiples CPS AFBR-S4N33C013 sin prácticamente pérdidas.
Su capa protectora está realizada en un vidrio que es transparente a las longitudes de onda ultravioletas (UV), lo que se traduce en una respuesta amplia en el espectro de luz visible con alta sensibilidad hacia la región azul y cerca de UV en el espectro de luz.
El AFBR-S4N33C013 resulta idóneo en la detección de fuentes de luz pulsada de bajo nivel, especialmente de la radiación de Cherenkov o el brillo de los materiales orgánicos (plásticos) e inorgánicos más comunes como, por ejemplo, LSO, LYSO, BGO, NaI, CsI, BaF o LaBr.
Libre de plomo y compatible con RoHS y REACH, este SiPM se caracteriza por un PDM de más del 54 por ciento a 420 nm, uniformidad de tensión de falla (180 mV – 3 sigma) y ganancia y rango de temperatura operativa de -40 a +85 °C.
Las aplicaciones abarcar detección de rayos X y gamma, espectroscopía de rayos gamma, medicina nuclear, tomografía por emisión de positrones (TEP), citometría de flujo, fruorescencia (medida de luminiscencia), recuento de fotones, física de alta energía, astrofísica y sistemas de seguridad.
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